Algoritmisk Höghastighets AFM
| Diarienummer | |
| Koordinator | Intermodulation Products AB |
| Bidrag från Vinnova | 500 000 kronor |
| Projektets löptid | augusti 2015 - mars 2016 |
| Status | Avslutat |
Syfte och mål
Syftet med projektet var att undersöka en metod för att förbättra mätningar med så kallad svepprobsmikroskopi (AFM, eng. Atomic Force Microscopy). Till grund låg teoretiska beräkningar och simuleringar som tydde på att en markant förbättring var möjlig. Tack vare finansiering av projektet har vi kunnat påvisa den teoretiska effekten även experimentellt. Vi har dock också sett negativa effekter av störningar och brus som simuleringarna inte tog hänsyn till.
Resultat och förväntade effekter
Då de experimentella resultaten inte fullt ut överensstämde med våra förhoppningar är den exakta storleken på förbättringen och där med dess marknadspotential fortsatt något oklar. Resultaten är dock goda nog för att motivera att fortsätta utveckla och förbättra tekniken. Patenterbarhet av metoden undersöktes genom nyhetssökning och möjligheten att skydda tekniken bedöms som god.
Upplägg och genomförande
Det största fokuset i projektet låg i experimentella mätningar. Majoriteten av dessa utfördes vid Kungliga Tekniska Högskolans Nanolab på AlbaNova i Stockholm. Laboratoriet har ett flertal toppmoderna AFM i en renrumsmiljö. Ny mjukvara och hårdvara utvecklades även för att kunna utföra mätningarna. Ett samarbete med en forskargrupp i Tyskland inleddes och preliminära mätningar gjordes vid deras AFM som är ett så kallat ultra-hög vakuum AFM, en typ av instrument vi inte har tillgång till på AlbaNova.