Prototyp för demonstration av samspelet mellan standarder för pålitliga elektroniksystem

Viktiga resultat som projektet gav

Dagens elektroniksystem består av många sammankopplade integrerade kretsar, var och en med hög integration av olika funktioner, s.k. System-on-Chip (SoC). För att möjliggöra testning, felsökning och konfiguration byggs instrumentering in i kretsar enligt IEEE standarder. I detta projekt har vi implementerat en prototyp med målet att demonstrera samspelet mellan standardiseringsinitiativ från systemnivå till instrument på kretsnivå. Genom att demonstrera detta samspel får vi förståelse och lärdom om samspel mellan IEEE standarder och relaterade säkerhetsproblem.

Långsiktiga effekter som förväntas

Vi har fokuserat på följande två problem: (1) Hur kan inbyggda instrument för test återanvändas under drift? (2) Hur kan inbyggda instrument för test som använder en testport från IEEE Std. 1149.1 skyddas från otillbörlig access? Vi har tagit fram prototyper som vi implementerat på FPGA för problem 1 och 2. För problem 1 har vi arbetat fram ett konferensbidrag som blivit accepterat för presentation vid International Test Conference i september. Vi ska också ge en presentation för SAAB om projektet.

Upplägg och genomförande

Projektet har genomförts genom ett antal regelbundna digitala möten. Vi har haft 60 möten med hela projektgruppen för att diskutera övergripande problemställningar och vi har haft 45 möten för att diskutera implementering av prototypen.