Strukturell utvärdering av grafen/polyuretanbeläggningen Pluto Conductive
| Diarienummer | |
| Koordinator | RISE Research Institutes of Sweden AB |
| Bidrag från Vinnova | 499 000 kronor |
| Projektets löptid | november 2020 - december 2022 |
| Status | Avslutat |
| Utlysning | Forskningsinfrastrukturer - nyttiggörande och samverkan |
| Ansökningsomgång | Industriella pilotprojekt för användning av neutron- och fotonbaserade tekniker vid storskalig forskningsinfrastruktur - 2020 |
| Slutrapport | 2020-03789_Provexa.pdf(pdf, 176 kB) (In English) |
Viktiga resultat som projektet gav
Provexa Technology är ett ytbehandlingsföretag som utvecklar avancerade funktionella beläggningar baserade på polymermatriser med funktionella 2D-material som grafen och MXener. Relativt små mängder funktionella 2D-material i traditionella beläggningar påverkar deras makroskopiska egenskaper, tex förbättra elektrisk ledningsförmåga. Men det exakta förhållandet mellan processparametrar, beläggningens mikro-/nanostrukturen och des egenskaper saknar förståelse, och det finns också ett behov av att identifiera lämpliga tekniker för att undersöka det.
Långsiktiga effekter som förväntas
Soft X-ray XPEEM och µXPS vid MAXPEEM är verktyg för att undersöka kolspeciering, men de visade sig vara oförenliga med de låga koncentrationerna av grafen som är relevanta för Provexas produkter. Å andra sidan upptäcktes betydande Ti-inhomogeniteter med hårdröntgen-XRF, vilket indikerar att MXener bildar små kluster i mikron- till submikronskalan, med storlek och fördelning beroende på processparametrar. Sådan insikt kommer att hjälpa Provexa att optimera sin funktionella beläggningstillverkningsprocess för att uppnå de önskade makroskopiska egenskaperna.
Upplägg och genomförande
Alla experiment utfördes vid MAX IV-laboratoriet i Lund, på organiska beläggningar innehållande antingen grafen eller MXener och med tjocklekar som sträcker sig upp till några tiotals mikron. XPEEM- och µXPS-analysen utfördes vid MAXPEEM-strållinjen för att undersöka grafenfördelningen på beläggningsytan. XRF vid NanoMAX-strållinjen användes för att kartlägga Ti-fördelningen i de MXene-innehållande beläggningarna.